A、CSK-ⅡA、CSK-ⅣA B、GS-1、GS-2、GS-3和GS-4 C、CS2、CS3 D、CSK-IA、DZ-Ⅰ、DB-PZ20-2
A、全面掃查 B、列線掃查 C、格子線掃查 D、中部區(qū)域列線掃查或格子線掃查加坡口預(yù)定線兩側(cè)范圍內(nèi)100%掃查
A、0.5-1MHz雙晶直探頭 B、1-5MHz雙晶直探頭 C、2.5MHz單晶直探頭 D、5MHz單晶直探頭
A、用于復(fù)合板復(fù)合面結(jié)合狀態(tài)的檢測(cè) B、在復(fù)合板中部區(qū)域,探頭延垂直于基材壓延方向,間距不大于100mm的平行線掃查 C、單個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度小于25mm可不作記錄 D、未結(jié)合區(qū)定義是:B1<5%示波屏滿刻度,且F1≥5%