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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】如果每個(gè)單元都通過(guò)了測(cè)試，把它們集成一起難道會(huì)有什么不妥嗎？集成測(cè)試是否多此一舉？
答案：
要把N個(gè)單元集成一起肯定靠接口耦合，這時(shí)可能會(huì)產(chǎn)生在單元測(cè)試中無(wú)法發(fā)現(xiàn)的問(wèn)題。例如：數(shù)據(jù)通過(guò)不同的接口時(shí)可能出錯(cuò)；幾個(gè)函...
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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】試比較白盒測(cè)試與黑盒測(cè)試。
答案：
黑盒測(cè)試只能觀察軟件的外部表現(xiàn)，即使軟件的輸入輸出都是正確的，卻并不能說(shuō)明軟件就是正確的。因?yàn)槌绦蛴锌赡苡缅e(cuò)誤的運(yùn)算方式...
問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】由于單元測(cè)試要寫(xiě)測(cè)試驅(qū)動(dòng)程序，非常麻煩，能否等到整個(gè)系統(tǒng)全部開(kāi)發(fā)完后，再集中精力進(jìn)行一次性地單元測(cè)試呢？
答案：
不能這樣做，因?yàn)槿绻@樣做，在開(kāi)發(fā)過(guò)程中，缺陷會(huì)越積越多并且分布得更廣、隱藏得更深，反而導(dǎo)致測(cè)試與改錯(cuò)的代價(jià)大大增加。最...
