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X射線熒光光譜分析散射背景內(nèi)標(biāo)法是用由連續(xù)譜線的散射線構(gòu)成的本底(背景)為內(nèi)標(biāo)的校正方法。
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在X射線熒光分析中內(nèi)標(biāo)法往往可以采用將樣品制成溶液的形式或以熔劑熔融的方式進行。
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波長色散X射線熒光光譜儀的分光晶體對溫度的變化較敏感,溫度變化會引起晶體面間距值的變化,導(dǎo)致譜線的位移。
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