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用經(jīng)緯儀測(cè)量工件平面度誤差的精度比用合像水平儀的測(cè)量精度高。
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生產(chǎn)中所用對(duì)角線法測(cè)量工作臺(tái)的平面度誤差,是符合最小條件要求的。
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光學(xué)合像水平儀具有靈敏度高,且受溫度影響較小的優(yōu)點(diǎn)。
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