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判斷題

深淺雙側(cè)向電阻率曲線的重疊顯示，能比較有效地識別地層的裂縫，并可以分析裂縫的角度。

答案：正確

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垂直裂縫會使深、淺側(cè)向電阻率都降低。

答案：錯誤

在電導(dǎo)率異常檢測（DCA）處理成果圖上，可排除地層層理，有效地顯示高角度裂縫。

答案：正確

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