你可能感興趣的試題

A.列地址至行地址的延遲時間，簡稱RCD
B.行地址控制器延遲時間
C.列動態(tài)時間，也稱tRAS，表示一個內(nèi)存芯片上兩個不同的列逐一尋址時所造成的延遲
D.列地址控制器預(yù)充電時間，簡稱tRP

A.列地址至行地址的延遲時間，簡稱RCD
B.內(nèi)存位寬的英文縮寫
C.CPU二級緩存的英文縮寫
D.行地址控制器延遲時間

感谢您访问我们的网站，您可能还对以下资源感兴趣：