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RAM測(cè)試方法中,谷值檢測(cè)法無(wú)法檢測(cè)“粘連”及“連橋”故障。
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軟件開(kāi)發(fā)過(guò)程的三個(gè)典型階段是定義、開(kāi)發(fā)和測(cè)試。
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智能儀器中的噪聲與干擾是因果關(guān)系,噪聲是干擾之因,干擾是噪聲之果。
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