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問答題
【簡答題】基本的芯片測試臺(tái)由哪幾部分組成？
答案：
載片部分、接觸和調(diào)整部分、顯微鏡部分、控制部分
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問答題
【簡答題】在晶圓上（On-wafer）或在芯片上（On-Chip）測試有什么優(yōu)點(diǎn)？
答案：
對于處于研究階段的芯片，特別是模擬集成電路和模/數(shù)混合信號(hào)集成電路非常有效，可以大大節(jié)省時(shí)間
