問答題

【簡答題】什么是離子注入時(shí)的溝道效應(yīng)?列舉出三種控制溝道效應(yīng)的方法?

答案: 溝道效應(yīng):單晶硅原子為長程有序排列,當(dāng)注入離子未與硅原子碰撞減速,而是穿透了晶格間隙時(shí),就發(fā)生了溝道效應(yīng),使預(yù)期的設(shè)計(jì)范...
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【簡答題】解釋為什么目前CMOS工藝中常采用多晶硅柵工藝,而不采用鋁柵工藝?

答案: 目前CMOS工藝中常采用多晶硅柵工藝,而不采用鋁柵工藝的原因是:
①采用自對準(zhǔn)方式,減小了晶體管的尺寸和柵電極...
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【簡答題】在集成電路制造工藝中,輕摻雜漏(LDD)注入工藝是如何減少結(jié)和溝道區(qū)間的電場,從而防止熱載流子的產(chǎn)生?

答案: 如果沒有LDD形成,在晶體管正常工作時(shí)會在結(jié)和溝道區(qū)之間形成高電場,電子在從源區(qū)向漏區(qū)移動的過程中,將受此電場加速成高能...
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