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問答題
【簡(jiǎn)答題】測(cè)試的一般要求。
答案：
必須按照微電子器件試驗(yàn)方法的軍用國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試，其中就對(duì)測(cè)試環(huán)境提出了嚴(yán)格的要求，這樣可以避免外界因素對(duì)器件造成的誤差...
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問答題
【簡(jiǎn)答題】IIH/IIL集體測(cè)試法優(yōu)缺點(diǎn)。
答案：
優(yōu)點(diǎn)：能在短時(shí)間內(nèi)迅速進(jìn)行漏電流的測(cè)試。
缺點(diǎn)：
1.測(cè)試對(duì)象有限，只能運(yùn)用于高輸入阻抗的器件；
缺點(diǎn)：
1.測(cè)試對(duì)象有限，只能運(yùn)用于高輸入阻抗的器件；
問答題
【簡(jiǎn)答題】IIL串行測(cè)試方法。
答案：
1、電源端施加VDDmax；
2、所有的輸入管腳施加VIH預(yù)置為邏輯1狀態(tài)；
3、對(duì)待測(cè)管腳施加低電...
2、所有的輸入管腳施加VIH預(yù)置為邏輯1狀態(tài)；
3、對(duì)待測(cè)管腳施加低電...
