A、90° B、30° C、45° D、0°
A、X軸增幅 B、掃描范圍 C、X軸位移 D、整步增幅
A、限制集電極功耗 B、保護晶體管 C、把集電極電壓變化轉(zhuǎn)換為電流變化 D、限制集電極功耗,保護被測晶體管