判斷題

以相同的探測靈敏度探測粗晶鑄件或經過調質鍛件中的缺陷，如兩者探測面狀態(tài)一樣，在相同深度時缺陷的回波高度也一樣，則兩者的缺陷鑄件中的大。

答案：正確

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深度相同但表面狀態(tài)不同的缺陷，在相同探傷靈敏度下，兩者的回波高度不同。

答案：正確

用試塊對比法測得的缺陷大小與實際大小相等。

答案：錯誤

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