用一次波和二次波探測GHT—5試塊上C區(qū)兩豎孔與試塊界面構(gòu)成的上下棱角,如圖30所示。
在CS-1-5試塊上探測200mm處φ2平底孔,如圖29所示。
如圖28所示。在GHT—5試塊C區(qū)2號豎孔上校準(zhǔn)。