單項(xiàng)選擇題

晶片與探測(cè)面平行，使超聲波垂直于探測(cè)面進(jìn)入探測(cè)材料的檢驗(yàn)方法稱為（）

A.直射法
B.斜射法
C.表面波法
D.上述三種都不對(duì)

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